Voedselproducenten kunnen hele kleine verontreinigingen detecteren middels een nieuw X-ray systeem van Mettler Toledo’s Productinspectie Divisie.
Het X34 X-ray inspectiesysteem detecteert metaal, glas, kunststof met een hogere dichtheid, steen en botfragmenten in allerlei verpakte voedingsmiddelen. Het systeem maakt gebruik van software waarmee de producten automatisch worden ingesteld. Dit vermindert naar eigen zeggen het risico op menselijke fouten en het aantal valse uitwerpen.
Eén van de belangrijkste kenmerken is een “Optimum Power” generator van 100W die de detectiegevoeligheid automatisch maximaliseert. De generator wordt aangevuld door een detector van 0,4 mm voor de nauwkeurige opsporing van kleine verontreinigingen.
